HAST試驗(yàn)箱是一種可以縮短產(chǎn)品和系統(tǒng)壽命試驗(yàn)時(shí)間的一種試驗(yàn)，可以有效加快試驗(yàn)過(guò)程，下邊是對(duì)試驗(yàn)箱基本情況的一些介紹。三分鐘教你讀懂設(shè)備用途及特點(diǎn)。

 

　　一、HAST試驗(yàn)箱多功能作用：

 

　　加快實(shí)驗(yàn)過(guò)程，提高環(huán)境應(yīng)力(溫度)和工作應(yīng)力(電壓)來(lái)縮短產(chǎn)品壽命時(shí)間，評(píng)估器件在高溫、高濕度、高壓情況下對(duì)濕度的抵抗力（相比于THB,溫度增加，壓力增大，實(shí)驗(yàn)的時(shí)間可以減少，加速試驗(yàn)的進(jìn)程）。

 

　　二、設(shè)備試驗(yàn)五大類(lèi)型：

 

　　低溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、高溫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)、快速熱循環(huán)試驗(yàn)、綜合應(yīng)力試驗(yàn)和工作應(yīng)力試驗(yàn)。

 

　　三、HAST試驗(yàn)箱用途有何優(yōu)勢(shì)：

 

　　1.高溫?cái)U(kuò)散工藝技術(shù)的改進(jìn)（重點(diǎn)是高溫長(zhǎng)時(shí)間擴(kuò)散，如隔離擴(kuò)散）包括可能引起硅片內(nèi)部隱裂的工藝技術(shù)改進(jìn)。

 

　　2.包封工藝技術(shù)、框架處理工藝技術(shù)的有效改善。

 

　　3.塑封料、框架的變更。

 

　　4.新產(chǎn)品（含新的封裝結(jié)構(gòu)）。

 

　　5.封裝工藝過(guò)程中的污染。

 

　　四、試驗(yàn)箱產(chǎn)品安全防護(hù)措施：

 

　　1.漏電斷路器的安全保障。

 

　　2.意外斷電時(shí)設(shè)備自動(dòng)會(huì)切斷總開(kāi)關(guān)電源，供電時(shí)需要人工操作修復(fù)系統(tǒng)來(lái)維持正常工作的運(yùn)行。

 

　　3.供電系統(tǒng)有專(zhuān)門(mén)的漏電保護(hù)器，整機(jī)外殼安全接地。

 

　　五、HAST試驗(yàn)箱應(yīng)用范圍：

 

　　用于高加速的檢驗(yàn)方法來(lái)評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品耐濕熱的能力，習(xí)慣于用來(lái)產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)、質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證，特別是在半導(dǎo)體，太陽(yáng)能和其他工業(yè)中，作為標(biāo)準(zhǔn)溫度濕度偏差檢測(cè)（85C/85%RH—1000小時(shí)）的迅速有效的替代方案。